通過電源產生足夠大的電流去測試大電流傳感器

(小到幾kA大到500kA)，不僅從成本上考慮不允許而且也不現(xiàn)實。因此, 通常的方法是采用較小功率電源，并且母排由多個迭片疊加迂回構成，這樣用總的安培匝數(shù)來模擬母排電流。雖然這種方法看上去很理想，但還是有許多缺點：

在大多數(shù)情況下，層迭的母排形成一個或兩個分開的多匝繞組(相當于一個或二個大線圈)，這樣會構成一個不平衡的磁場從而影響一些設備的校準精度。理想情況下，母排繞組應該圍繞直流傳感器對稱地布置,但這樣大多數(shù)廠商實際操作起來不現(xiàn)實，因為它要求一個很大空間和大量繞組，需要注意的是這種母排繞組形式與多匝法測試線圈類似但規(guī)模上更大一些。

母排必須有回路到電源，除非返回母排距離傳感器比較遠或繞組尺寸很大，否則它會產生一個不平衡的外磁場對傳感器形成影響。通常情況下由于空間限制返回母排在大部分測試設施與傳感器距離較近。

在整流器的輸出端，母排的布置構成一個低電感值回路，因此母排上的電流通常存在很大的紋波和諧波成份。一個電源在這種模式下很難長時間工作，其穩(wěn)定性也不能保證。

在許多情況下去改變母排的形狀以適應不同形狀和尺寸的傳感器是很困難的且在一些情況下不可能實現(xiàn)。理想情況下，母排的形狀可以大體上與傳感器窗口形狀大小相匹配，并且母排要占據(jù)傳感器窗口一半以上的空間以保證提供最好的精度。

關鍵詞： 直流大電流傳感器測試方